Специализированная логика

    制造商 Серия Корпус/корпус Упаковка Состояние продукта Тип логики Напряжение питания Количество бит Рабочая температура Марка Квалификация Тип крепления Устройство поставщика Упаковка


















































































































































































































































































































































































































































































































































    全部重置
    应用所有
    结果:
    Фотографии Производитель. Часть # Доступность Price Количество Таблицы данных Серия Корпус/корпус Упаковка Состояние продукта Тип логики Напряжение питания Количество бит Рабочая температура Марка Квалификация Тип крепления Устройство поставщика Упаковка
    SN74LVTH18504APMR

    SN74LVTH18504APMR

    IC 20BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP

    Texas Instruments

    0
    RFQ
    SN74LVTH18504APMR

    Таблицы данных

    74LVTH 64-LQFP Tape & Reel (TR) Active ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers 2.7V ~ 3.6V 20 -40°C ~ 85°C - - Surface Mount 64-LQFP (10x10)
    SN74LVTH182502APMR

    SN74LVTH182502APMR

    IC SCAN-TEST-DEV/TRANSCVR 64LQFP

    Texas Instruments

    32
    RFQ
    SN74LVTH182502APMR

    Таблицы данных

    74LVTH 64-LQFP Tape & Reel (TR) Active ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers 2.7V ~ 3.6V 18 -40°C ~ 85°C - - Surface Mount 64-LQFP (10x10)
    SN74ABTH16460DLR

    SN74ABTH16460DLR

    IC REGISTERED TRANSCVR 56SSOP

    Texas Instruments

    0
    RFQ
    SN74ABTH16460DLR

    Таблицы данных

    74ABTH 56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width) Tape & Reel (TR) Obsolete 4-TO-1 Multiplexed/Demultiplexed Transceivers 4.75V ~ 5.5V 5 -40°C ~ 85°C - - Surface Mount 56-SSOP
    SN74LVT8980ADWR

    SN74LVT8980ADWR

    IC TEST-BUS CONTROLLER 24-SOIC

    Texas Instruments

    0
    RFQ
    SN74LVT8980ADWR

    Таблицы данных

    74LVT 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) Tape & Reel (TR) Active Embedded Test-Bus Controllers 2.7V ~ 3.6V 8 -40°C ~ 85°C - - Surface Mount 24-SOIC
    SN74SSTU32864DZKER

    SN74SSTU32864DZKER

    IC 25BIT CONFIG REG BUFF 96-BGA

    Texas Instruments

    634
    RFQ
    SN74SSTU32864DZKER

    Таблицы данных

    - 96-LFBGA Tape & Reel (TR) Obsolete 1:1, 1:2 Configurable Registered Buffer 1.7V ~ 1.9V 25, 14 0°C ~ 70°C - - Surface Mount 96-PBGA MICROSTAR (13.6x5.6)
    SN74SSTV32852ZKFR

    SN74SSTV32852ZKFR

    IC BUFFER 24BIT-48BIT 114BGA

    Texas Instruments

    0
    RFQ
    SN74SSTV32852ZKFR

    Таблицы данных

    74SSTV 114-LFBGA Tape & Reel (TR) Obsolete Registered Buffer with SSTL_2 Compatible I/O for DDR 2.3V ~ 2.7V 24, 48 0°C ~ 70°C - - Surface Mount 114-BGA MICROSTAR (16x5.5)
    SN74ABT18640DL

    SN74ABT18640DL

    IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP

    Texas Instruments

    0
    RFQ
    SN74ABT18640DL

    Таблицы данных

    74ABT 56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width) Bulk Active Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers 4.5V ~ 5.5V 18 -40°C ~ 85°C - - Surface Mount 56-SSOP
    SN74ABT8652DW

    SN74ABT8652DW

    IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

    Texas Instruments

    0
    RFQ
    SN74ABT8652DW

    Таблицы данных

    74ABT 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width) Bulk Active Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers 4.5V ~ 5.5V 8 -40°C ~ 85°C - - Surface Mount 28-SOIC
    SN74ABT8652DL

    SN74ABT8652DL

    IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP

    Texas Instruments

    0
    RFQ
    SN74ABT8652DL

    Таблицы данных

    74ABT 28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width) Bulk Active Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers 4.5V ~ 5.5V 8 -40°C ~ 85°C - - Surface Mount 28-BSSOP
    SN74BCT8245ADW

    SN74BCT8245ADW

    IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

    Texas Instruments

    0
    RFQ
    SN74BCT8245ADW

    Таблицы данных

    74BCT 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) Bulk Obsolete Scan Test Device with Bus Transceivers 4.5V ~ 5.5V 8 0°C ~ 70°C - - Surface Mount 24-SOIC
    Общий 437 Записывать«Предыдущая1... 1516171819202122...44Следующий»
    HOME

    ДОМ

    PRODUCT

    ПРОДУКТ

    PHONE

    ТЕЛЕФОН

    USER

    ПОЛЬЗОВАТЕЛЬ